1、測定時(shí)實(shí)驗(yàn)室的溫度應(yīng)在15～30℃,所用的電源應(yīng)配備有穩(wěn)壓裝置。
2、為防止儀器受潮而影響使用壽命,紅外實(shí)驗(yàn)室應(yīng)保持干燥（相對濕度應(yīng)在65%以下）。
3、樣品的研磨要在紅外燈下進(jìn)行,防止樣品吸水。
4、壓片用的模具用后應(yīng)立即把各部分擦干凈，必要時(shí)用水清洗干凈并擦干,置干燥器中保存以免銹蝕。
5、采樣器使用過程中必須注意以下幾點(diǎn)：
?、贅悠放cGe晶體間必須緊密接觸,不留縫隙.否則紅外光射到空氣層就發(fā)生衰減全反射,不進(jìn)入樣品層；
?、趯τ跓帷C、冰冷、強(qiáng)腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進(jìn)行測定,以免Ge晶體裂痕和腐蝕；
?、奂?、硬且表面粗糙的樣品不適合用采樣器采樣,因?yàn)檫@些樣品極易刮傷晶片,甚至使其碎裂。
更新時(shí)間：2021-11-17
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