臺(tái)式掃描電子顯微鏡SEM
A：Z大放大倍率10萬(wàn)倍
B：圖像景深高，立體感強(qiáng)，分辨率高
C：載物臺(tái)五軸控制系統(tǒng)（傾斜功能），XY（40MM），R（360），TILT（0-45），Z（0-35MM）
D：配備四級(jí)可變光闌（30,50,100,200μm），通過(guò)調(diào)整電子束大小可提供高分辨率圖像
E：自動(dòng)對(duì)焦，自動(dòng)調(diào)整對(duì)比度和亮度，調(diào)整dian子書尺寸，消像散
F：樣品艙大可進(jìn)行多種多樣樣品分

產(chǎn)品型號(hào)：SNE-4500

更新時(shí)間：2025-03-04

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問(wèn)量：6628

服務(wù)熱線

021-64810945,64810946

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

物理特性儀器

熔點(diǎn)儀旋光儀系列折射儀系列霧度儀生物顯微鏡金相顯微鏡光色度儀系列滴點(diǎn)軟化點(diǎn)測(cè)定儀應(yīng)力儀酶標(biāo)儀農(nóng)藥殘毒測(cè)定儀輪廓儀測(cè)厚儀熱分析儀振動(dòng)篩粒度儀

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產(chǎn)品介紹

SNE-4500G臺(tái)式掃描電子顯微鏡SEM

主機(jī)：
A. 技術(shù)參數(shù)
1. 分辨率：5nm (30kV, SE Image)
2. 放大倍率：30x~100,000x (有效放大倍率60,000x)
3. 加速電壓 :
5kV to 30kV (5Kv/10Kv/15kV/20kV/30Kv-5 step)
4. 圖像：
二次電子圖像-(SEI)-Secondary Electron Image
5. Observation mode: Standard Mode
6. 電子槍系統(tǒng):
燈絲類型：預(yù)對(duì)中鎢燈絲
偏壓系統(tǒng)：自動(dòng)偏壓方式
電子槍校正：手動(dòng)方式
7. 透鏡構(gòu)成
i. 聚光鏡 : 2段式磁線圈透鏡
ii. 物鏡 : 1段式磁線圈透鏡
8. 探測(cè)器類型
E-T Detector
9. 載物臺(tái)系統(tǒng)：5軸操控
- X, Y-axis : 40mm / R-axis : 360°
- Z : 0~35mm / Tilt-axis : 0~45°
10. Image shift:X, Y Image Shift (100?)
11. 樣品zui大尺寸 :
80mm in diameter, 35mm in height